其他產(chǎn)品及廠家

耐電痕試驗儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達到或超
更新時間:2025-09-09
漏電起痕指數(shù)CTI測試儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達到或超
更新時間:2025-09-09
超聲波人體秤/身高體重測量儀 KY114
超聲波身高體重體檢機,采用微電腦控制,全觸摸液晶屏顯示操作步驟,歐姆龍血壓計和歐姆龍脂肪計的使用使本機更顯高貴。本機采用原裝進口打印機及切紙刀,經(jīng)久耐用。
更新時間:2025-09-09
靜電手腕帶測試儀,手腕帶測試儀
產(chǎn)品簡介:手腕帶測試儀主要監(jiān)視手腕帶是否戴好,檢測手腕帶是否損壞、太松或斷線儀器將會報警提示,從而保證了人體的靜電經(jīng)過手腕帶釋放到大地的可靠性。 www.bjkaiyun.com技術(shù)參數(shù):
更新時間:2025-09-09
電子和電場實驗儀, 電場實驗儀
產(chǎn)品特點:儀器由示波管、理想二極管、mf-47萬用表、電源及配置的幾組專用線圈等部分組成。采用組合型結(jié)構(gòu),對稱性高,具有直觀、可動手性強、操作方便的特點。采用負高壓安全可靠。儀器各部分包括面板、示波管、理想二極管、mf-47萬用表等,均可拆卸便于維修。整個儀器采用積木式裝入箱內(nèi),一儀多用。
更新時間:2025-09-09
JCB4便攜式甲烷檢測報警儀
jcb4甲烷檢測報警儀該產(chǎn)品是新一代微型智能檢測儀,可連續(xù)檢測存在易燃、易爆可燃性氣體混合物環(huán)境中的甲烷濃度。具有聲光報警,電壓顯示,欠壓報警,零點自動跟蹤,調(diào)校使用方便等特點。
更新時間:2025-09-09
cx  美國Jonard 測力計  原廠
-簡化了結(jié)構(gòu),但可以地測量推拉力-量表有兩種刻度:克和盎司-非常適合現(xiàn)場服務(wù)使用和需要儀表而無需維護的應(yīng)用-精密彈簧經(jīng)過單獨校準并通過自重檢查-由于校準保持在±1刻度上,因此秤具有完全的精度-精度:1個刻度,max容量:220克(8盎司),公制容量:5克(220克)
更新時間:2025-09-09
WXH賽默飛世爾Termofisher
wxh賽默飛世爾termofisherfei 是一家生產(chǎn)、經(jīng)營多種科學(xué)儀器的業(yè)內(nèi)先企業(yè)。 其產(chǎn)品包括電子和離子束顯微鏡,以及 可滿足多個行業(yè)納米尺度應(yīng)用的相關(guān)產(chǎn)品,這些行業(yè)橫跨: 工業(yè)和理論 材料研究、生命科學(xué)、半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲、自然資源 等等諸多域。 為全球納米技術(shù)團體提供的顯微鏡學(xué)解決方案
更新時間:2025-09-09
Vega儀表--yyn
vega儀表由德國vega(威格)研發(fā)的儀器儀表,德國vega(威格)公司在1959年成立于黑森林,是上一家的物位及壓力測量儀表的制造商。vega產(chǎn)品被廣泛應(yīng)用于:石化、化工、制藥業(yè)、食品加工、和飲用水處理、污水處理廠、垃圾填埋場、采礦和能源發(fā)電、對鉆井平臺、船舶、飛機。德國vega公司在航空航天,國防,金融,工業(yè)和公共部門等域的技術(shù)先
更新時間:2025-09-09
合金鋼化驗儀器,合金鋼成分分析儀
gq-hw2a電弧紅外碳硫分析儀: 主要技術(shù)指標(biāo):*測量范圍:碳(c)0.001%~10.000%(可擴至99.999%) 硫(s)0.0005%~0.5000%(可擴至99.999%) *分析時間:25~60s可調(diào),一般35s*分析誤差:碳優(yōu)于gb/223.69-1997標(biāo)準 硫優(yōu)于gb/t223.68-1997標(biāo)準 *燃燒功率:小于2.5kva; *工作原理:電弧燃燒,紅外檢測
更新時間:2025-09-09
城市道路積水監(jiān)測系統(tǒng)
城市道路積水監(jiān)測系統(tǒng)是山東天合環(huán)境科技有限公司研發(fā)生產(chǎn),可以及時避免人員、車輛誤入深水路段造成重大人身傷害與經(jīng)濟損失。
更新時間:2025-09-09
耳酷靈聽力篩查儀
力篩查是通過耳聲發(fā)射、自動聽性腦干反應(yīng)和聲阻抗等電生理學(xué)檢測,在受試者自然睡眠或安靜的狀態(tài)下進行的客觀、快速和無創(chuàng)的檢查。 這個聞名于兩步篩查(oae/abr)的新版本聽力篩查儀,具有快速、準確、直觀的特點。作為世界上值得信賴的聽篩產(chǎn)品之一,耳酷靈®為我們贏得了至高的聲譽。 顯著提高工作效率
更新時間:2025-09-09
慢走絲過濾器,慢走絲離子交換樹脂
本公司長期有:三菱線切割原廠配件,沙迪克線切機原廠配件,西部線切割機原廠配件,日立線切割機原廠配件,慶鴻線切割機原廠配件,亞特/茗亞線切割機原廠配件,富士通線切割機原廠配件,夏米爾線切割機原廠配件,臺灣三貴火花機用配件等。多種線切割與打孔機配件,耗材批發(fā)出售。
更新時間:2025-09-09
磨床永磁吸盤廠家直銷保修一年
各規(guī)格型號磁盤:電磁吸盤,加工中心強力吸盤,磨床永磁吸盤,雕刻機細目永磁 吸盤,火花機磁盤,線切割磁盤,磨刀機專業(yè)磁盤,一體正弦臺,彎弓正弦臺,雙傾正弦臺,旋轉(zhuǎn)磁臺,直角磁臺,圓形吸盤,紅銅.黃銅永磁吸盤,雙面永磁吸盤,導(dǎo)磁塊等……機床精密配件.定做非標(biāo)吸盤
更新時間:2025-09-09
日本NIKON高度計
日本 nikon高度計:加高型精密高度計,量程小于等于100mm的產(chǎn)品高度、厚度與深度測量。日本nikon高度計:流水生產(chǎn)線可以每線一臺,高精度高效測量,是高精度產(chǎn)品生產(chǎn)企業(yè)最佳選擇。日本nikon高度計:選配特殊測針,可完成小深孔,盲孔測量,這是三坐標(biāo),影像儀,投影儀與顯微鏡無法代替的特點,特制測頭還可測
更新時間:2025-09-09
德國Minro米諾高度計特價批發(fā)
米諾高度計非常順滑的柱塞運動。米諾高度計周期可靠性優(yōu)于2,000,000hz,保證高速位移時不丟失數(shù)據(jù)。米諾高度計靈活選擇的探針。米諾高度計0-50mm或0-100mm的測量范圍可選。
更新時間:2025-09-09
寧波CNC高速電火花細孔穿孔機
余姚高速電火花穿孔機采用電極管(黃銅管,紫銅管)作為工具電極利用電火花放電蝕除原理,在電極與工作之間施加高頻脈沖電源形成小脈寬,電流的放電加工,輔以高壓水冷卻排渣,使工件的蝕除速度加快,特別適用于不銹鋼,淬火鋼,銅,鋁,硬質(zhì)合金等各種導(dǎo)電材料上加工直徑0.15-2.0之間的深小孔,深度100mm,可直接在工件的斜面,曲加工,用于電火花線切割加工的穿絲孔,化纖噴絲頭,噴絲板的噴絲孔,濾板,篩板的群孔
更新時間:2025-09-09
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具,硬件測試,ddr測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
更新時間:2025-09-09
出租Tektronix USB2.0測試夾具
出租tektronix usb2.0測試夾具
更新時間:2025-09-09
MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題
mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題mipi是2003年由arm,nokia,st,it等公司成立的個聯(lián)盟,旨在把手機內(nèi)部的接口如存儲接口,顯示接口,射頻/基帶接口等標(biāo)準化,減少兼容性問題并簡化設(shè)計。
更新時間:2025-09-09
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當(dāng)抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中,這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道,包括同時測量每條通道的眼圖。
更新時間:2025-09-09
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 MIPI驅(qū)動問題 重起問題
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動問題 重起問題
更新時間:2025-09-09
硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動問題
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動問題
更新時間:2025-09-09
MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動
更新時間:2025-09-09
MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗
mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗
更新時間:2025-09-09
MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題
mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2025-09-09
MIPI攝像頭 MIPI眼圖測試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面,再回顧下數(shù)據(jù)格式,加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式:escape mode, high-speed (burst) mode and control mode,下面是從停止?fàn)顟B(tài)進入相應(yīng)模式需要的時序:
更新時間:2025-09-09
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試 分析與解決方法
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表,sav和evav之間的保護數(shù)據(jù)是被編碼過的,使用這種方法,編碼器可以糾正1-bit錯誤,可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中,僅僅是奇偶交錯模式中支持。
更新時間:2025-09-09
分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當(dāng)幀結(jié)束或者是個在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時,eof中斷就產(chǎn)生了,eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用,該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯的時候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會產(chǎn)生
更新時間:2025-09-09
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據(jù)是個從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0,表示系統(tǒng)是小端,不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容,p0是個data,依次,p3是個data.
更新時間:2025-09-09
MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660,輸出設(shè)定為yuv模式,因此,csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù),因此還需要通過軟件,將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應(yīng)的memory進行顯示輸出。
更新時間:2025-09-09
MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試 MIPI屏 初始化指令問題
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小,該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少,可以想象在相同的面積上,數(shù)量越多,感光元件肯定要越小,感光元件小,那么圖像的質(zhì)量其實會變差,這個當(dāng)然可以理解,但是從大的方面來說,只要鏡頭好,光源充足,那么效果也會變好,這樣畫面就比像素低的更加的細膩,所以高像素的好處就在這里。
更新時間:2025-09-09
MIPI眼圖 數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進行接口匹配。
更新時間:2025-09-09
ETS-LINDGREN近場探頭,硬件測試,開放實驗室,DDR測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-09-09
Nemtest dito靜電放電模擬器,硬件測試,開放實驗室,DDR測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-09-09
PCIE2.0 3.0 驗證 調(diào)試和一致性測試解決方案
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常,memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2025-09-09
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同,pcie總線使用端到端的連接方式,在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設(shè)備,這兩個設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成,目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路,還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-09-09
PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測試
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處,但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中,數(shù)據(jù)報文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生,然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer),終發(fā)送出去。
更新時間:2025-09-09
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當(dāng)pcie設(shè)備進入休眠狀態(tài),主電源已經(jīng)停止供電時,pcie設(shè)備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求,使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時間:2025-09-09
PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號質(zhì)量一致性測試
pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定,懷疑以下原因:- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-09-09
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉,它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進程,在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來,集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達到 10 nm 量產(chǎn)水平,更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能,當(dāng)然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2025-09-09
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中,般提供×16的pcie插槽,并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號,其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路,另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-09-09
Pcie1.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn),也即隨著信號幅度越來越低,對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制,比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù),由于采用 4 電平調(diào)制,其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-09-09
Pcie1.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求,個是type00h配置請求,另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-09-09
Pcie1.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r代,工程界已經(jīng)積累了很多實踐經(jīng)驗,再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車,每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設(shè)計的經(jīng)驗,但是經(jīng)驗并不是金科玉律,也不是都適合工程師特殊的設(shè)計需求。
更新時間:2025-09-09
Pcie3.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設(shè)計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進行設(shè)計時,工程師會按照主芯片給的設(shè)計規(guī)范進行設(shè)計。結(jié)合項目工程的需要,其 ddr3 的采用的是 t 型的拓撲結(jié)構(gòu), ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中,發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時間:2025-09-09
Pcie3.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配,只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商,而device id代表這個廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7,其vendor id為0x10ee,而device id為0x7028。
更新時間:2025-09-09
Pcie3.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計改板后的測試結(jié)果與仿真 致。 如果不進行仿真,那么只能在產(chǎn)品設(shè)計完成之后進行測試才能發(fā)現(xiàn)問題,如果要改善, 只能再改板調(diào)整,還可能出現(xiàn)改板很多次的情況,這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-09-09
梅特勒電極(有問題,產(chǎn)品上留有碎渣)
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120(有問題,產(chǎn)品上留有碎渣) 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-09-09

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計(PH計) 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準物質(zhì) 生物試劑