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其他產(chǎn)品及廠家

U7242-26401出租Agilent安捷倫USB3.0測(cè)試夾具，硬件測(cè)試，DDR測(cè)試，時(shí)序測(cè)試，紋波測(cè)試，抖動(dòng)測(cè)試

出租agilent usb3.0測(cè)試夾具u7242-26401

更新時(shí)間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

USB2.0出租Tektronix USB2.0測(cè)試夾具

出租tektronix usb2.0測(cè)試夾具

更新時(shí)間:2025-09-10

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MIPI傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題

mipi傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個(gè)聯(lián)盟，旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲(chǔ)接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化，減少兼容性問題并簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)。

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MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測(cè)試

mipi接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測(cè)試基于示波器的當(dāng)抖動(dòng)測(cè)量工具在條通道上只提供個(gè)眼圖。在通用測(cè)量中，這些工具只有6-8個(gè)測(cè)量項(xiàng)目。dpojet全面支持所有通道，包括同時(shí)測(cè)量每條通道的眼圖。

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MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測(cè)試 MIPI傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題 MIPI驅(qū)動(dòng)問題重起問題

mipi接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測(cè)試 mipi傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動(dòng)問題重起問題

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硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動(dòng)問題

硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動(dòng)問題

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MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng)

mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng)

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MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn)

mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn)

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MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問題

mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問題

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MIPI攝像頭 MIPI眼圖測(cè)試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決

mipi攝像頭 mipi眼圖測(cè)試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數(shù)據(jù)格式，加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時(shí)序：

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解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測(cè)試分析與解決方法

解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表，sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯(cuò)誤，可以檢查2-bit的錯(cuò)誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯(cuò)模式中支持。

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分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測(cè)試

分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試當(dāng)幀結(jié)束或者是個(gè)在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時(shí)，eof中斷就產(chǎn)生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯(cuò)的模式下使用，該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯(cuò)的時(shí)候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會(huì)產(chǎn)生

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解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測(cè)試

解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試bayer數(shù)據(jù)是個(gè)從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0，表示系統(tǒng)是小端，不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容，p0是個(gè)data,依次，p3是個(gè)data.

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該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測(cè)試與分析解決MIPI屏黑屏問題

mipi clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設(shè)定為yuv模式，因此，csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù)，因此還需要通過軟件，將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對(duì)應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。

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MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測(cè)試 MIPI屏初始化指令問題

mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試 mipi屏初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點(diǎn)多少，可以想象在相同的面積上，數(shù)量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質(zhì)量其實(shí)會(huì)變差，這個(gè)當(dāng)然可以理解，但是從大的方面來說，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會(huì)變好，這樣畫面就比像素低的更加的細(xì)膩，所以高像素的好處就在這里。

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該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

MIPI眼圖數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測(cè)試與分析解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程

mipi眼圖數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。

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該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

HCLD-3耐電痕試驗(yàn)儀

hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評(píng)定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超

更新時(shí)間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司

HCLD-3高壓漏電檢測(cè)儀

更新時(shí)間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司

6200-2Fluke 6200-2便攜式電器安規(guī)測(cè)試儀

fluke 6200-2 pat測(cè)試儀是輕便、小巧的一鍵式解決方案，6200-2的設(shè)計(jì)宗旨是在不影響您和客戶安全的前提下更快地工作。一鍵式解決方案...只需按下一個(gè)按鈕，即可啟動(dòng)預(yù)設(shè)測(cè)試程序。簡(jiǎn)化測(cè)試實(shí)現(xiàn)更快更高效的工作方式。6200-2重約為3 kg，重量輕、易攜帶。堅(jiān)固耐用的便攜箱(標(biāo)配)可以提供運(yùn)輸保護(hù)還提供額外存儲(chǔ)空間。體積小...該便攜式電器測(cè)試儀結(jié)構(gòu)非常緊湊，并且具有福祿克一貫的耐用性

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該公司產(chǎn)品分類：上海黎頓電子科技有限公司

DX200GHD金屬導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀

加工定制：是類型：指針式電阻測(cè)量儀表品牌：yaos堯順型號(hào)：dx200ghd測(cè)量范圍：10-5--105ω（mω）電　源：220±10%測(cè)試電壓：2 mv、20 mv、200 mv、2v（v）精度：0.1%重量：8.5（kg）尺　寸：345mm*480mm*145mm規(guī)格：φ30x180

更新時(shí)間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：西安宏鵠檢測(cè)儀器有限公司

美國Stangenes電流互感器2-1.0W

magnelab電流互感器（ct）提供準(zhǔn)確，無損（非接觸）的單或重復(fù)單或雙的測(cè)量脈沖或連續(xù)波。

更新時(shí)間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：上海祺煊實(shí)業(yè)有限公司

OTC5609COTC5609C氣瓶泄漏測(cè)試儀

美國otc5609c氣瓶泄漏測(cè)試儀

更新時(shí)間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：廈門欣銳儀器儀表有限公司

LSCGLSCG數(shù)顯PPM可燃?xì)怏w檢測(cè)儀美國CPS原裝進(jìn)口欣銳儀器代理測(cè)爆儀

lscg leak-seeker提高了可燃?xì)怏w檢漏儀的標(biāo)準(zhǔn)，使其成為暖通空調(diào)人員定位和查明泄漏的工具。lscg幫助您確保沒有危險(xiǎn)的泄漏，因此您可以保持。先可燃?xì)怏w泄漏檢測(cè)儀大型背光lcd顯示屏可獲得讀

更新時(shí)間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：廈門欣銳儀器儀表有限公司

OHAUS CAV先進(jìn)型分析天平

品牌:ohaus.cav64c(外校)價(jià)格:8800元.最大量程:65g到260g.可讀性:0.0001g.自動(dòng)內(nèi)部/外部校正,標(biāo)配rs232接口,性能出眾,應(yīng)用豐富.

更新時(shí)間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：南京皓而普分析設(shè)備有限公司

OHAUS DV專業(yè)型分析天平

品牌:ohaus.dv114價(jià)格:21500元.最大量程:81g到310g.可讀性:0.00001g到0.0001g.溫度觸發(fā)全自動(dòng)內(nèi)校,標(biāo)配rs232接口,專業(yè)稱量,完美演繹.

更新時(shí)間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：南京皓而普分析設(shè)備有限公司

OHAUS EP專業(yè)型分析天平

品牌:ohausep64c價(jià)格:14900元.最大量程:62g到210g.可讀性:0.0001g.溫度觸發(fā)全自動(dòng)內(nèi)校,標(biāo)配rs232接口,性能優(yōu)異,追求卓越.

更新時(shí)間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：南京皓而普分析設(shè)備有限公司

OHAUS AR通用型分析天平

品牌:ohausar224cn價(jià)格:8800元.最大量程:65g到220g.可讀性:0.0001g.自動(dòng)外校,標(biāo)配rs232接口,經(jīng)典系列,全新呈現(xiàn).

更新時(shí)間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：南京皓而普分析設(shè)備有限公司

OHAUS CP基礎(chǔ)型分析天平

品牌:ohauscp64價(jià)格:6500元.最大量程:65g到220g.可讀性:0.0001g.自動(dòng)內(nèi)部/外部校正,標(biāo)配rs232接口,全新設(shè)計(jì),優(yōu)異性價(jià)比.

更新時(shí)間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：南京皓而普分析設(shè)備有限公司

OHAUS EP專業(yè)型精密天平

品牌:ohausep213c價(jià)格:13900元.最大量程:210g到8100g.可讀性:0.1g到0.001g.溫度觸發(fā)全自動(dòng)內(nèi)校,標(biāo)配rs232接口,性能優(yōu)異,追求卓越.

更新時(shí)間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：南京皓而普分析設(shè)備有限公司

OHAUS CAV先進(jìn)型精密天平

品牌:ohaus.cav212(外校)價(jià)格:4600元.最大量程:51g到8100g.可讀性:0.1g到0.001g.自動(dòng)內(nèi)部/外部校正,標(biāo)配rs232接口,性能出眾,應(yīng)用豐富.

更新時(shí)間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：南京皓而普分析設(shè)備有限公司

OHAUS CP基礎(chǔ)型精密天平

品牌:ohauscp512價(jià)格:4300元.最大量程:151g到4200g.可讀性:0.01g到0.001g.自動(dòng)內(nèi)部/外部校正,標(biāo)配rs232接口,全新設(shè)計(jì),優(yōu)異性價(jià)比.

更新時(shí)間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：南京皓而普分析設(shè)備有限公司

OHAUS AR通用型精密天平

品牌:ohausar522cn價(jià)格:4800元.最大量程:151g到4200g.可讀性:0.1g到0.001g.自動(dòng)外校,標(biāo)配rs232接口,經(jīng)典系列,全新呈現(xiàn).

更新時(shí)間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：南京皓而普分析設(shè)備有限公司

OHAUS SPS通用型便攜式天平

品牌:ohaussps401f價(jià)格:1300元.最大量程:200g到6000g.可讀性:1g到0.01g.自動(dòng)外部校正,標(biāo)配rs232接口,精巧耐用,性能優(yōu)越.

更新時(shí)間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：南京皓而普分析設(shè)備有限公司

OHAUS SE基礎(chǔ)型便攜式天平

品牌:ohausse6000f價(jià)格:680元.最大量程:200g到6000g.可讀性:1g到0.01g.自動(dòng)外部校正,標(biāo)配rs232接口,便攜可靠,靈活選擇.

更新時(shí)間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：南京皓而普分析設(shè)備有限公司

OHAUS CL/CS便攜秤

品牌:ohauscl201t價(jià)格:180元.最大量程:200g到5000g.可讀性:1g到0.1g.機(jī)械結(jié)構(gòu),軟件程序雙重過載保護(hù)設(shè)計(jì),可靠,便攜.

更新時(shí)間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：南京皓而普分析設(shè)備有限公司

OHAUS V31X工業(yè)便攜式天平

品牌:ohausv31x6cn價(jià)格:1500元.最大量程:200g到6000g.可讀性:0.01g到1g.獲得nsf認(rèn)證和usda認(rèn)證,符合haccp認(rèn)證.

更新時(shí)間:2025-09-10

該公司產(chǎn)品分類：南京皓而普分析設(shè)備有限公司

泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具

泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具，硬件測(cè)試，ddr測(cè)試，時(shí)序測(cè)試，紋波測(cè)試，抖動(dòng)測(cè)試

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該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

7405ETS-LINDGREN近場(chǎng)探頭，硬件測(cè)試，開放實(shí)驗(yàn)室，DDR測(cè)試，時(shí)序測(cè)試，紋波測(cè)試，抖動(dòng)測(cè)試

misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室開放實(shí)驗(yàn)室硬件實(shí)驗(yàn)室 ets-lindgren 7405近場(chǎng)探頭儀器資訊

更新時(shí)間:2025-09-09

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ESD測(cè)試儀Nemtest dito靜電放電模擬器，硬件測(cè)試，開放實(shí)驗(yàn)室，DDR測(cè)試，時(shí)序測(cè)試，紋波測(cè)試，抖動(dòng)測(cè)試

misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室開放實(shí)驗(yàn)室硬件實(shí)驗(yàn)室 nemtest dito 靜電放電模擬器儀器資訊

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PCIE2.0 3.0 驗(yàn)證調(diào)試和一致性測(cè)試解決方案

遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常

更新時(shí)間:2025-09-09

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PCIE2.0 3.0 物理層一致性測(cè)試

cie2.0 3.0 物理層致性測(cè)試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個(gè)設(shè)備，這兩個(gè)設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。

更新時(shí)間:2025-09-09

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PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送物理層一致性測(cè)試

pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處，但是pcie總線的各個(gè)層次都是使用硬件邏輯實(shí)現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報(bào)文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。

更新時(shí)間:2025-09-09

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

PCIE2.0 3.0 RX 接收物理層一致性測(cè)試

pcie2.0 3.0 rx 接收物理層致性測(cè)試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時(shí)，pcie設(shè)備使用該信號(hào)向處理器系統(tǒng)提交喚醒請(qǐng)求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。

更新時(shí)間:2025-09-09

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PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量一致性測(cè)試

pcie 初始化完成后會(huì)進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號(hào)質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時(shí)鐘問題

更新時(shí)間:2025-09-09

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pcie2.0x4 眼圖測(cè)試物理層一致性測(cè)試

pcie2.0x4 眼圖測(cè)試物理層致性測(cè)試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動(dòng)了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程，在天無時(shí)無刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當(dāng)然對(duì)業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。

更新時(shí)間:2025-09-09

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pcie2.0x8 眼圖測(cè)試物理層一致性測(cè)試

pcie2.0x8 眼圖測(cè)試物理層致性測(cè)試在個(gè)處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號(hào)線組成32對(duì)差分信號(hào)，其中16對(duì)petxx信號(hào)用于發(fā)送鏈路，另外16對(duì)perxx信號(hào)用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號(hào)。

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Pcie1.0x4 眼圖測(cè)試物理層一致性測(cè)試

pcie1.0x4 眼圖測(cè)試物理層致性測(cè)試日益降低的信號(hào)幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號(hào)幅度越來越低，對(duì)整個(gè) 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對(duì)信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.

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Pcie1.0x8 眼圖測(cè)試物理層一致性測(cè)試

pcie1.0x8 眼圖測(cè)試物理層致性測(cè)試ci總線定義了兩類配置請(qǐng)求，個(gè)是type00h配置請(qǐng)求，另個(gè)是type 01h配置請(qǐng)求。

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Pcie1.0x16 眼圖測(cè)試物理層一致性測(cè)試

pcie1.0x16 眼圖測(cè)試物理層致性測(cè)試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r(shí)代，工程界已經(jīng)積累了很多實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗(yàn)分享中獲得很多有價(jià)值和有助于自己設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，但是經(jīng)驗(yàn)并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設(shè)計(jì)需求。

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Pcie3.0x4 眼圖測(cè)試物理層一致性測(cè)試

pcie3.0x4 眼圖測(cè)試物理層致性測(cè)試下面是個(gè) ddr3 設(shè)計(jì)的實(shí)際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí)，工程師會(huì)按照主芯片給的設(shè)計(jì)規(guī)范進(jìn)行設(shè)計(jì)。結(jié)合項(xiàng)目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號(hào)出現(xiàn)非單調(diào)性。

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