壁厚測(cè)厚儀產(chǎn)品及廠家
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：sgc-10薄膜測(cè)厚儀，適用于介質(zhì)，半導(dǎo)體，薄膜濾波器和液晶等薄膜和涂層的厚度測(cè)量。該薄膜測(cè)厚儀，是與美國(guó)new-span公司合作研制的，采用new-span公司先進(jìn)的薄膜測(cè)厚技術(shù)，基于白光干涉的原理來(lái)測(cè)定薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)（折射率n，消光系數(shù)k）。它通過(guò)分析薄膜表面的反射光和薄膜與基底界面的反射光相干形成的反射譜，用相應(yīng)的軟件來(lái)擬合運(yùn)算，得到單層或多層膜系各層的厚度d，折射率n，消光系數(shù)k。
更新時(shí)間:2025-08-30
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