陶瓷磚平整度直角度邊直度綜合測(cè)定儀@新聞中心適用于測(cè)定各種墻面磚、地面磚尺寸及形狀特性之儀器,其所測(cè)參數(shù)包括面磚的邊直度、直角度、平整度(中心彎曲度、邊彎曲度、翹曲度)等幾項(xiàng)指標(biāo)。本產(chǎn)品符合:gb/t3810.2-2006,idt iso 10545-2-1995《陶瓷磚-尺寸和表面質(zhì)量的檢驗(yàn)》的要求。
μscan采用模塊化設(shè)計(jì),特點(diǎn)是快速測(cè)量、不接觸、不破壞、自動(dòng)化,μscan的中心部件掃描模塊(x/y方向樣品掃描)可以和不同的傳感器,(z方向測(cè)量)連用,如confocal point sensor、autofocus sensor、chromatic white light sensor、holographic sensor等。
適用于科研和生產(chǎn)的高質(zhì)量表面測(cè)量手段contourgt-i 3d 光學(xué)顯微鏡將三十多年表面測(cè)量經(jīng)驗(yàn)和技術(shù)融合到單一平臺(tái)上,實(shí)現(xiàn)調(diào)整校準(zhǔn)自動(dòng)便捷、測(cè)量角度靈活多樣、測(cè)試成像性能優(yōu)異及表面定量測(cè)試方案。
kosaka et200基于 windows xp操作系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析,包括半導(dǎo)體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、mems、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。使用金剛石(鉆石)探針接觸測(cè)量的方式來實(shí)現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用。et200 能精確可靠地測(cè)量出表面臺(tái)階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。