日立sft9455x射線熒光鍍層測(cè)厚儀概述: sft9000系列里很好的機(jī)型“sft9455”,搭載75w高速x射線管和雙重檢驗(yàn)裝置(半導(dǎo)體檢驗(yàn)裝置十比 例計(jì)數(shù)管)。適用“薄膜”、“金屬膜”、“極微小部分測(cè)定”等所有鍍膜膜厚測(cè)定要求的高性能膜 厚測(cè)量?jī)x器。而且 “sft9455”在鍍膜厚度測(cè)量功能的基礎(chǔ)上還可以用作異物定性分析和材料成分分析。
更新時(shí)間:2025-12-02