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回收Agilent33220A,回收函數(shù)發(fā)生器
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更新時(shí)間:2025-09-10
回收HP437B,回收功率計(jì),東莞回收
回收hp437b,回收功率計(jì),東莞回收:回收hp437b,回收功率計(jì),東莞回收:東莞市塘廈佳華電子有限公司出售多臺(tái)、高價(jià)回收各類儀器儀表,歡迎來(lái)電咨詢133/3260/7146冉(ran先生)153/6288/0132陳小姐,佳華電子儀器感謝你的來(lái)電^o^
更新時(shí)間:2025-09-10
回收AG34450A,回收萬(wàn)用表
回收ag34450a,回收萬(wàn)用表:回收ag34450a,回收萬(wàn)用表:代理批發(fā)美國(guó)安捷倫agilent 34450a 數(shù)字臺(tái)式萬(wàn)用表 五位半 原裝全新正品34450a數(shù)字萬(wàn)用表提供多種特性,讓您在測(cè)量應(yīng)用中領(lǐng)先一步:
更新時(shí)間:2025-09-10
回收TOS5051A,回收高壓機(jī)
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更新時(shí)間:2025-09-10
回收E4432B,回收E4432B
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更新時(shí)間:2025-09-10
*回收頻率計(jì)*回收HP53131A
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更新時(shí)間:2025-09-10
回收CA-310*回收CA310
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更新時(shí)間:2025-09-10
CL-200A回收*回收CL-200A
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更新時(shí)間:2025-09-10
3540測(cè)試夾9287-10
3540測(cè)試夾9287-10:3540是沒(méi)有外部控制接口的低價(jià)格版本,用于手動(dòng)測(cè)試。 3540-01加入了bcd輸出和外部控制,3540-02包含了打印機(jī)接口,3540-03包含了rs-232c接口。微電阻計(jì)3540-01/3540-02/3540-03
更新時(shí)間:2025-09-10
出售10kv高壓測(cè)試棒
出售10kv高壓測(cè)試棒:高壓棒/高壓測(cè)試棒/高壓探棒/10kv高壓測(cè)試棒/高壓棒/高壓測(cè)試棒/高壓探棒/10kv高壓測(cè)試棒
更新時(shí)間:2025-09-10
出售安捷倫4284A
出售安捷倫4284a:精密lcr測(cè)試儀是用于元件和材料測(cè)量的價(jià)廉物美的儀器。它通過(guò)提供精確、高吞吐量的測(cè)試方法來(lái)改善元件的質(zhì)量。20hz到1mhz寬的測(cè)頻范圍和優(yōu)良的測(cè)試信號(hào),使4284a在測(cè)試元件時(shí)符合最通行的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如iec/mil標(biāo)準(zhǔn)(國(guó)際電工委員會(huì)或美國(guó)軍用標(biāo)準(zhǔn))
更新時(shí)間:2025-09-10
手機(jī)自由跌落試驗(yàn)機(jī)
手機(jī)自由跌落試驗(yàn)機(jī):電子產(chǎn)品跌落機(jī)適用于移動(dòng)電話(手機(jī))、對(duì)講機(jī)、電子詞典、樓寓對(duì)講電話、cd/md/mp3等小 型消費(fèi)類電子制品及零部件之自由落下試驗(yàn)。結(jié)構(gòu)特點(diǎn) 本機(jī)采用電動(dòng)結(jié)構(gòu)升降,將被測(cè)試件置于專用夾具(可調(diào)行程)夾牢,按下跌落 鍵,氣缸松開(kāi),試件將作自由落體試驗(yàn)。跌落高度可作上下調(diào)整,高度計(jì)精確地 顯示跌落高度,操作簡(jiǎn)單。
更新時(shí)間:2025-09-10
電線耐磨試驗(yàn)機(jī)
電線耐磨試驗(yàn)機(jī):符合標(biāo)準(zhǔn):ul1581,ul62,gb5023.2-2008,主要將電線固定在夾具上,另一端掛上340g或500g砝碼,在1/2級(jí)(中等)金剛砂布上不斷上下運(yùn)動(dòng),橡皮絕緣電纜進(jìn)行耐磨試驗(yàn)。.
更新時(shí)間:2025-09-10
360度彎折試驗(yàn)機(jī)
360度彎折試驗(yàn)機(jī):本試驗(yàn)機(jī)符合ul817、ccc等有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)“軟線組件和電源軟線通用安全要求”的規(guī)定。適用于有關(guān)生產(chǎn)廠家和質(zhì)檢部門對(duì)電源線、dc線進(jìn)行彎曲試驗(yàn)。
更新時(shí)間:2025-09-10
供應(yīng)WR(Z)耐磨型熱電阻、熱電偶
wr(z)耐磨型熱電阻、熱電偶采用熱噴涂工藝和特種耐磨合金材料保護(hù)管,適用于高溫、高壓及磨損、腐蝕嚴(yán)重的場(chǎng)合。如電站煤粉、石油裂解、建筑瀝青混合物等流動(dòng)粉末或粒子的溫度測(cè)量。www.wellyb.com
更新時(shí)間:2025-09-10
希而科優(yōu)勢(shì)品牌 Ahlborn 精密測(cè)量設(shè)備 MA2890系列
希而科優(yōu)勢(shì)品牌 ahlborn 精密測(cè)量設(shè)備 ma2890系列如,ahlborn已經(jīng)成為業(yè)內(nèi)標(biāo)桿企業(yè),擁有大量尖端測(cè)量技術(shù),全球化銷售網(wǎng)絡(luò)和良好的產(chǎn)品拓展性,ahlborn公司已經(jīng)成為測(cè)量技術(shù)域的導(dǎo)者之一。在超過(guò)30年的發(fā)展過(guò)程中,德國(guó)愛(ài)爾邦ahlb
更新時(shí)間:2025-09-10
希而科優(yōu)勢(shì)品牌 Ahlborn 精密測(cè)量設(shè)備 MA2890
希而科優(yōu)勢(shì)品牌 ahlborn 精密測(cè)量設(shè)備 ma2890系列如,ahlborn已經(jīng)成為業(yè)內(nèi)標(biāo)桿企業(yè),擁有大量尖端測(cè)量技術(shù),全球化銷售網(wǎng)絡(luò)和良好的產(chǎn)品拓展性,ahlborn公司已經(jīng)成為測(cè)量技術(shù)域的導(dǎo)者之一。在超過(guò)30年的發(fā)展過(guò)程中,德國(guó)愛(ài)爾邦ahlb
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希而科優(yōu)勢(shì)品牌   Ahlborn    MA2890
希而科優(yōu)勢(shì)品牌 ahlborn 精密測(cè)量設(shè)備 ma2890系列如,ahlborn已經(jīng)成為業(yè)內(nèi)標(biāo)桿企業(yè),擁有大量尖端測(cè)量技術(shù),全球化銷售網(wǎng)絡(luò)和良好的產(chǎn)品拓展性,ahlborn公司已經(jīng)成為測(cè)量技術(shù)域的導(dǎo)者之一。在超過(guò)30年的發(fā)展過(guò)程中,德國(guó)愛(ài)爾邦ahlb
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Ahlborn    MA2890
希而科優(yōu)勢(shì)品牌 ahlborn 精密測(cè)量設(shè)備 ma2890系列如,ahlborn已經(jīng)成為業(yè)內(nèi)標(biāo)桿企業(yè),擁有大量尖端測(cè)量技術(shù),全球化銷售網(wǎng)絡(luò)和良好的產(chǎn)品拓展性,ahlborn公司已經(jīng)成為測(cè)量技術(shù)域的導(dǎo)者之一。在超過(guò)30年的發(fā)展過(guò)程中,德國(guó)愛(ài)爾邦ahlb
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Ahlborn    MA2890  希而科
希而科優(yōu)勢(shì)品牌 ahlborn 精密測(cè)量設(shè)備 ma2890系列如,ahlborn已經(jīng)成為業(yè)內(nèi)標(biāo)桿企業(yè),擁有大量尖端測(cè)量技術(shù),全球化銷售網(wǎng)絡(luò)和良好的產(chǎn)品拓展性,ahlborn公司已經(jīng)成為測(cè)量技術(shù)域的導(dǎo)者之一。在超過(guò)30年的發(fā)展過(guò)程中,德國(guó)愛(ài)爾邦ahlb
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希而科 Ahlborn    MA2890
希而科優(yōu)勢(shì)品牌 ahlborn 精密測(cè)量設(shè)備 ma2890系列如,ahlborn已經(jīng)成為業(yè)內(nèi)標(biāo)桿企業(yè),擁有大量尖端測(cè)量技術(shù),全球化銷售網(wǎng)絡(luò)和良好的產(chǎn)品拓展性,ahlborn公司已經(jīng)成為測(cè)量技術(shù)域的導(dǎo)者之一。在超過(guò)30年的發(fā)展過(guò)程中,德國(guó)愛(ài)爾邦ahlb
更新時(shí)間:2025-09-10
Ahlborn    希而科  MA2890
希而科優(yōu)勢(shì)品牌 ahlborn 精密測(cè)量設(shè)備 ma2890系列如,ahlborn已經(jīng)成為業(yè)內(nèi)標(biāo)桿企業(yè),擁有大量尖端測(cè)量技術(shù),全球化銷售網(wǎng)絡(luò)和良好的產(chǎn)品拓展性,ahlborn公司已經(jīng)成為測(cè)量技術(shù)域的導(dǎo)者之一。在超過(guò)30年的發(fā)展過(guò)程中,德國(guó)愛(ài)爾邦ahlb
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多路電阻測(cè)試儀 奮樂(lè)廠家直銷
1、flh5000多路電阻測(cè)試儀是新型多路電阻測(cè)試儀應(yīng)用于電子器件、電機(jī)繞組、接插件、開(kāi)關(guān)、導(dǎo)體、點(diǎn)火器等元器件的測(cè)量。2、多路數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)軟件采集溫度數(shù)據(jù),記錄測(cè)試數(shù)據(jù),繪制電阻曲線
更新時(shí)間:2025-09-10
電阻測(cè)試儀 智能電阻測(cè)量?jī)x   奮樂(lè)廠家直銷
1、智能化、寬范圍、高精密的直流電阻測(cè)試儀器2、電熱材料,變壓器及電感線圈銅阻、繼電器接觸電阻、開(kāi)關(guān)、接插件接觸電阻、導(dǎo)線電阻、元件焊點(diǎn)接觸電阻、印制板線條及焊孔電阻、金屬探傷3、用于生產(chǎn)線,可使用handler接口輸出良品/不良品信號(hào),以提高生產(chǎn)線自動(dòng)化測(cè)試能力
更新時(shí)間:2025-09-10
EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC5 復(fù)位測(cè)試
emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc5 復(fù)位測(cè)試identification state,發(fā)送完 cid 后,emmc device就會(huì)進(jìn)入該階段。
更新時(shí)間:2025-09-10
電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 Emmc5 上電時(shí)序測(cè)試
相關(guān)產(chǎn)品:電源紋波測(cè)試 , 時(shí)鐘測(cè)試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 , emmc5 , 上電時(shí)序測(cè)試
更新時(shí)間:2025-09-10
CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試
相關(guān)產(chǎn)品:clk測(cè)試 , dqs測(cè)試 , emmc4 , 上電時(shí)序測(cè)試data strobe 時(shí)鐘信號(hào)由 emmc 發(fā)送給 host,頻率與 clk 信號(hào)相同,用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號(hào)只能在 hs400 模式下配置啟用,啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性,省去總線 tuning 過(guò)程。
更新時(shí)間:2025-09-10
CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試
相關(guān)產(chǎn)品:clk測(cè)試 , dqs測(cè)試 , emmc4 , 上電時(shí)序測(cè)試 , 電源紋波測(cè)試
更新時(shí)間:2025-09-10
電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試
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控制信號(hào)測(cè)試 控制信號(hào)過(guò)沖測(cè)試 控制信號(hào)高低電平測(cè)試 EMMC 復(fù)位測(cè)試
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc5 上電時(shí)序測(cè)試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒(méi)有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號(hào)保持高電平,當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí),host 可以很方便檢測(cè)到該信號(hào),并開(kāi)始接收 response。
更新時(shí)間:2025-09-10
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 Emmc5 上電時(shí)序測(cè)試
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc5 上電時(shí)序測(cè)試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒(méi)有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號(hào)保持高電平,當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí),host 可以很方便檢測(cè)到該信號(hào),并開(kāi)始接收 response。
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clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc4 上電時(shí)序測(cè)試,眼圖測(cè)試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值,不包含 start bit。各個(gè) data line 上的 crc 為對(duì)應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值。
更新時(shí)間:2025-09-10
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試在 ddr 模式下,data line 在時(shí)鐘的上升沿和下降沿都會(huì)傳輸數(shù)據(jù),其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) (byte 1,3,5...),下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)(byte 2,4,6 ...)。
更新時(shí)間:2025-09-10
復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試
復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc4 上電時(shí)序測(cè)試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時(shí),host 可以發(fā)送 cmd19 命令,觸發(fā)總線測(cè)試過(guò)程(bus testing procedure),測(cè)試總線硬件上的連通性。
更新時(shí)間:2025-09-10
PCIE2.0 3.0 驗(yàn)證 調(diào)試和一致性測(cè)試解決方案
遇到的問(wèn)題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常,memory mapping空間讀寫異常
更新時(shí)間:2025-09-10
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測(cè)試
cie2.0 3.0 物理層致性測(cè)試pcie總線與pci總線不同,pcie總線使用端到端的連接方式,在條pcie鏈路的兩端只能各連接個(gè)設(shè)備,這兩個(gè)設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成,目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路,還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時(shí)間:2025-09-10
PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測(cè)試
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處,但是pcie總線的各個(gè)層次都是使用硬件邏輯實(shí)現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中,數(shù)據(jù)報(bào)文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生,然后再經(jīng)過(guò)該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer),終發(fā)送出去。
更新時(shí)間:2025-09-10
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測(cè)試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測(cè)試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài),主電源已經(jīng)停止供電時(shí),pcie設(shè)備使用該信號(hào)向處理器系統(tǒng)提交喚醒請(qǐng)求,使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時(shí)間:2025-09-10
PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號(hào)質(zhì)量一致性測(cè)試
pcie 初始化完成后會(huì)進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見(jiàn)pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定,懷疑以下原因:- 高速串行信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題- serdes電源問(wèn)題- 時(shí)鐘問(wèn)題
更新時(shí)間:2025-09-10
pcie2.0x4 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie2.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉,它大地推動(dòng)了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程,在天無(wú)時(shí)無(wú)刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來(lái),集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平,更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能,當(dāng)然對(duì)業(yè)內(nèi)從業(yè)者來(lái)說(shuō)遇到的挑戰(zhàn)和問(wèn)題也就越來(lái)越嚴(yán)峻。
更新時(shí)間:2025-09-10
pcie2.0x8 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie2.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試在個(gè)處理器系統(tǒng)中,般提供×16的pcie插槽,并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號(hào)線組成32對(duì)差分信號(hào),其中16對(duì)petxx信號(hào)用于發(fā)送鏈路,另外16對(duì)perxx信號(hào)用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號(hào)。
更新時(shí)間:2025-09-10
Pcie1.0x4 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie1.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試日益降低的信號(hào)幅度必將帶來(lái)信噪比(snr)的挑戰(zhàn),也即隨著信號(hào)幅度越來(lái)越低,對(duì)整個(gè) 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來(lái)越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來(lái)越來(lái)越熱的pam 調(diào)制,比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù),由于采用 4 電平調(diào)制,其對(duì)信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時(shí)間:2025-09-10
Pcie1.0x8 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie1.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試ci總線定義了兩類配置請(qǐng)求,個(gè)是type00h配置請(qǐng)求,另個(gè)是type 01h配置請(qǐng)求。
更新時(shí)間:2025-09-10
Pcie1.0x16 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie1.0x16 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r(shí)代,工程界已經(jīng)積累了很多實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車,每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗(yàn)分享中獲得很多有價(jià)值和 有助于自己設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn),但是經(jīng)驗(yàn)并不是金科玉律,也不是都適合工程師特殊的設(shè)計(jì)需求。
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Pcie3.0x4 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie3.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試下面是個(gè) ddr3 設(shè)計(jì)的實(shí)際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí),工程師會(huì)按照主芯片給的設(shè)計(jì)規(guī)范進(jìn)行設(shè)計(jì)。結(jié)合項(xiàng)目工程的需要,其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu), ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過(guò)程中,發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號(hào)出現(xiàn)非單調(diào)性。
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Pcie3.0x8 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie3.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試deviceid和vendor id寄存器這兩個(gè)寄存器的值由pcisig分配,只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商,而device id代表這個(gè)廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7,其vendor id為0x10ee,而device id為0x7028。
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Pcie3.0x16 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie3.0x16 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試獲得的信號(hào)波形沒(méi)有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計(jì)改板后的測(cè)試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真,那么只能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)完成之后進(jìn)行測(cè)試才能發(fā)現(xiàn)問(wèn)題,如果要改善, 只能再改板調(diào)整,還可能出現(xiàn)改板很多次的情況,這樣就會(huì)延遲產(chǎn)品上市時(shí)間并增加物料成本。
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梅特勒電極(有問(wèn)題,產(chǎn)品上留有碎渣)
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120(有問(wèn)題,產(chǎn)品上留有碎渣) 硬件開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 儀器租賃
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EMMC 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試
emmc 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試emmc 芯片下方在敷銅時(shí),焊盤部分要增加敷銅禁布框,避免銅皮分布不均影響散熱,導(dǎo)致貼片虛焊。
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EMMC 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試
emmc 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試電源紋波測(cè)試過(guò)大的問(wèn)題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式,發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長(zhǎng)的鱷魚(yú)夾地線,而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上,整個(gè)地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會(huì)引入更多的開(kāi)關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲,于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
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